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日本日置HIOKI3445非接触测温仪_3445红外测温仪
日本日置3445非接触测温仪技术参数：
测量量程
-50～500°C（分辨率0.1°C）
测量精度
±1%rdg.(200.1～500°C), ±2°C(0～200°C) ±10%rdg.±2°C(-50～-0.1°C)
响应时间
约0.7s（95%响应/1°C分辨率时）
采样速率
约8s/次
显示
4行LCD日本日置HIOKI3445非接触测温仪_3445红外测温仪
测量视野直径
7cm距离处为Ф2.5mm
瞄准
2束激光标记（2级）
测量波长
8～16μm
放射率补偿
日本日置HIOKI3445非接触测温仪_3445红外测温仪ε=0.10～1.00（0.01步进）
功能
*大、*小显示，模拟输出（需3909），RS-232C输出（需3909）
使用温湿度范围
0～40°C，35～85%rh(不凝结)
电源供应
6F22×1(连续使用约20小时)
体积及重量
47宽×200高×48厚mm,280g
附件
携带盒（1）,背带（1）
上海天皋电气有限公司销售专线：021-69985755,021-69988736,18049965581 以上均为本司产品资讯，如需更多，更详细的了解本司其它产品的信息，欢迎您来电咨询！
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